美国国家仪器公司（National Instruments, 简称NI）近日发布了NI PXIe-8115高性能嵌入式控制器，配备了最新的Intel第二代 Core i5双核处理器，能够缩短测试时间，是多核应用程序的理想选择。 NI PXIe-8115控制器具有多种外设I / O端口以及6个行业领先的USB 2.0端口。 这些板载外设端口最大限度地减少了外部适配器的个数，帮助工程师搭建符合成本效益的混合系统。 NI PXIe-8115嵌入式控制器的In-ROM和硬盘驱动诊断功能能够判定控制器的健康状况，从而提高操作性能，并最大限度地减少系统停工时间。 将控制器与NI LabVIEW系统设计软件结合，工程师可在各类测试、测量和控制应用中提升开发效率。

Intel Core i5-2510E处理器为NI PXIe-8115控制器提供了2.5 GHz的基本时钟频率，并采用Intel Turbo Boost技术，基于应用类型自动增加时钟频率。 举例来说，当运行只生成单处理线程的应用程序时，CPU会将一个未使用的内核置于空闲状态，并将活动内核的时钟频率从2.5 GHz提高至3.1 GHz。 这样，无需多线程的软件应用程序，就能采用最新的CPU。  它既可在双核、也可在高性能的单核模式下操作， 这种灵活性使得控制器可适用于各种应用，包括高性能的自动化测试和工业控制。

除了高性能的CPU以外，NI PXIe-8115控制器还配备了6个USB 2.0端口、2个可连接多台显示器的显示端口、双千兆以太网、GPIB、串行和并行端口。 有了丰富的外设I/O，用户就无需再购买单个PXI模块。PXI机箱中的插槽支持测量模块而不是标准I / O，因此工程师可以优化使用它们。对于占用较大内存的应用程序，控制器还标配了2 GB 1333 MHz DDR3内存，最高可扩展至8 GB并支持Windows 7 64位操作系统。 NI PXIe-8115控制器结合NI PXIe-1082机箱，使其能够适用于 深层分析、信号和图象处理以及高速数据采集。

为了提高PXI系统的稳定性，NI PXIe-8115控制器配备了In-ROM和硬盘驱动诊断功能，确保实现PXI嵌入式控制器的操作性能。 有了这项新功能，工程师们就无需再使用第三方工具来确定内存和硬盘的健康状况。 全新的NI PXIe-8115将诊断分析功能与NI备用硬盘驱动和内存相结合， 提高了操作性能，从而减少了停工时间，并确保给应用程序带来最小的影响。